Bruker procesni spektrometar MATRIX-F

Bruker MATRIX-F

Stanje: polovno, Spektro Tip: SpectroMaxX LMD08 / LMX08 Datum: 24.07.2020 Potpuna analiza sa stacionarnim spektrometrom iskre SpectroMakX: Uz pomoć spektrometra iskre može se odrediti sadržaj legure i prateći elementi makroskopskih čvrstih uzoraka. može se odrediti sa visokom preciznošću do PPM opsega. Za osnovne materijale gvožđa, aluminijuma, magnezijuma, bakra, nikla, titanijuma i olova, postoje različiti, metode merenja prilagođene relevantnim porodicama legura. Prednosti: Brza analiza u roku od nekoliko sekundi Spektralna analiza visoke preciznosti, uključujući C i N Kompaktan dizajn (stolni uređaj) Oblasti primene / Primena: Ispitivanje hemijskog sastava 31 obojenih i Ne-obojenih naseljavanje 31 obojenih i obojenih metali, azot i drugi elementi Opis objekta: Otvorena iskra postolje za visoku protok uzoraka Širok spektar uzoraka geometrije moguće Jednostavna promena baze Sledeći elementi su dostupni kao osnova: Al, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, Pb Elementi koji se mogu analizirati i sadržaj koncentracije zavise od metoda dostupnih za odgovarajući osnovni element Upotrebljiv opseg talasnih dužina 170-670 nm Izlaz izmerenih vrednosti u koncentracijama ili intenzitetima Izlazne jedinice koje se mogu izabrati (%, ppm) Izlaz statističkih parametara (prosjek, RSD) SPECTROMAXx LMKS08 Tehničke specifikacije: CCD optika: CCD multi-detektori visoke rezolucije Stabilizuje se protiv temperaturnih fluktuacija Efektivni opseg talasnih dužina: 140-670 nm, primenljiv i konfigurisan Opseg talasnih dužina zasniva se na zahtevima aplikacije kupca. Automatizovano profilisanje Moduli analize: Moduli analize koji se mogu slobodno izabrati Optimizovano da zadovolji zahteve kupaca Proširenje sa dodatnim modulima moguće na licu mesta Spark stalak: Otvorena iskra postolje za visoke uzorke Protok i različite geometrije uzoraka Minimizirana potrošnja argona zahvaljujući modulu za uštedu argona Optimizovan protok argona Smanjeni intervali čišćenja Spark bazna ploča lako zamenljiva Dizajn koji apsorbuje temperaturu bez vodenog hlađenja Integrisani sistem zatvarača za optimalan prikaz plazme Sistem pobude: Potpuno digitalizovan plazma generator sa digitalnom definicijom pražnjenja, Digitalna generisanje impulsa i digitalna kontrola impulsa van mreže 32 MHz mikrokontroler Maksimalno trajanje iskre: 4000 μs Maks. snaga iskre 4 kV Sistem prikaza: Sopstveni mikrokontroler za svaki CCD Interfejs serijskog izvora Spektrometar: Spoljni, najsavremeniji računar PC sistem sa Vindovs operativnim sistemom Tastatura i miš Nadgleda Softver: Spark Analyzer Pro MAKS softver za analitički rad i kalibraciju Kontinuirana automatska dijagnostika hardvera u pozadini Automatska verifikacija i identifikacija legure / kvaliteta Menadžer rezultata Onlajn planer održavanja Itedeu S Ahqjpfx Aa Der Uslovi okoline: Sobna temperatura: 10-30°C Uslovi: (10-30°C) Relativna vlažnost:

Stanje: skoro kao nov (polovno), Godina proizvodnje: 2024, Funkcionalnost: potpuno funkcionalan, Raster-elektronski mikroskop tipa Zeiss XB 350 Oprema i pribor • bez FIB kolone • SmartSEM i SmartFIB softver • GIS sa Pt-prekursorom • integrisani plazma čistač • EDX Oxford Xplore 30 (uklj. interfejs i softver) • automatska 200 mm komora za uzorke • električni prolaz (2 x 15 kanala) • cirkulacioni hladnjak • vakuumski bafer rezervoar u Quiet Mode režimu • ... kao i sto, ekran, kontrolne konzole (Zeiss original tastatura i džojstik) i razni držači za uzorke Puštanje u rad: avgust 2024. Lokacija: Majnc Dostupnost: po dogovoru, brzo dostupno. Uređaj je još u radu i može se pogledati i demonstrirati u svakom trenutku. Isdpfx Aew Rdvvoa Djtr Uređaj nema nikakvih nedostataka ili mana i potpuno je funkcionalan. Dodatne informacije na zahtev!

Stanje: spreman za upotrebu (polovno), Skale: Rockwell/Rockwell-Superficial, maksimalna visina radnog komada: oko 180mm, maksimalna dubina ispitivanja: oko 165mm, vreme zadržavanja: oko 3s, izlaz podataka: Digimatic/RS-232-C, dimenzije mašine X/Y/Z: oko 250mm/520mm/780mm, težina: oko 50kg. Dokumentacija dostupna. Moguć je pregled na licu mesta. Iedpfx Aasxc Niws Detr